Caractérisation à l’échelle nanométrique d’interfaces métal/SiOxNy (Omn.Univ.Europ.)

Caractérisation à l’échelle nanométrique d’interfaces métal/SiOxNy (Omn.Univ.Europ.)

ÉDITIONS UNIVERSITAIRES EUROPÉENNES

Pages: 192, Paperback, Éditions universitaires européennes

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